接(jie)觸網激(ji)光(guang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi) 接(jie)觸網全參數測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)北京JQJ型接(jie)觸網全參數激(ji)光(guang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)是我公司傳統(tong)光(guang)學瞄(miao)準接(jie)觸網激(ji)光(guang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)的升級產品(pin),是在原有系列(lie)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)的基礎(chu)上,采用全數字信號視頻采集模塊,工業級的攝像頭(tou)直接(jie)將各(ge)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)位置成像在儀(yi)器的3.5英寸真(zhen)彩(cai)色TFT液晶屏幕上,并(bing)在同(tong)一屏幕中同(tong)時顯示圖象和(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)數據(ju),避免(mian)了來回切換界面的繁瑣操作(zuo),使(shi)得整個瞄(miao)準和(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)過程更加(jia)方便迅速。
5束激(ji)光投(tou)(tou)點儀(yi) 激(ji)光投(tou)(tou)點檢測儀(yi)北京供(gong)應·5只獨立激(ji)光二(er)極(ji)管,光束可視(shi)性更好。 ·裝有補(bu)償器鎖定裝置(zhi)的(de)ON/OFF開(kai)關會保護(hu)設(she)備免受運輸中(zhong)的(de)損(sun)壞。 ·20分鐘后自動關閉,有效延長(chang)電池壽命。 ·當偏離水(shui)平時,光束自動閃(shan)爍警(jing)告用(yong)戶。
激光測(ce)拱儀 水平(ping)基準激光測(ce)拱儀北京供應該儀器適用于(yu)所有(you)依據水平(ping)基準進行高(gao)度測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)場合(he),是起重(zhong)機(ji)械生產廠、維(wei)修部(bu)門及質量(liang)(liang)(liang)技術監督(du)部(bu)門授權的(de)(de)計量(liang)(liang)(liang)檢測(ce)機(ji)構的(de)(de)常用裝置(zhi),主(zhu)要用于(yu)檢測(ce)起重(zhong)機(ji)械的(de)(de)金屬結構的(de)(de)主(zhu)梁上撓度、靜(jing)撓度和制動下滑量(liang)(liang)(liang)測(ce)量(liang)(liang)(liang)等(deng)技術指(zhi)標;測(ce)量(liang)(liang)(liang)精(jing)度高(gao),工作(zuo)穩定,操作(zuo)便捷;裝置(zhi)體(ti)積小,緊湊(cou)便攜。
半導體(ti)激光(guang)(guang)器 光(guang)(guang)譜分析(xi)半導體(ti)激光(guang)(guang)器北京供應FSL 系(xi)列是一款*性價(jia)比(bi)的高(gao)穩定型半導體(ti)激光(guang)(guang)器,具(ju)有(you)多種(zhong)輸(shu)出(chu)波(bo)長可選(405nm, 488nm, 483nm, 532nm, 635nm, 660nm,780nm, 785nm, 830nm etc),功率穩定性高(gao),光(guang)(guang)束(shu)質(zhi)量好,接近衍射(she)極限。FSL系(xi)列 半導體(ti)激光(guang)(guang)器廣(guang)泛用(yong)在各種(zhong)醫療(liao),生(sheng)物,半導體(ti)測試設(she)備,及(ji)科研實驗中。
北京(jing)激(ji)(ji)光(guang)能(neng)量計(ji)(ji)激(ji)(ji)光(guang)能(neng)量計(ji)(ji)*的(de)電路設計(ji)(ji), 使(shi)儀器可以(yi)對工作在單次(ci)~200Hz的(de)每一個激(ji)(ji)光(guang)脈沖能(neng)量進(jin)行測(ce)試和(he)存儲(chu), 并具(ju)有(you)1000個能(neng)量測(ce)量數據的(de)存儲(chu)、回放功(gong)能(neng)和(he)統計(ji)(ji)計(ji)(ji)算功(gong)能(neng); *的(de)衰減技術使(shi)儀器具(ju)有(you)*的(de)抗激(ji)(ji)光(guang)損傷能(neng)力, 并可應用于需要長時間直接測(ce)試的(de)場合; 智(zhi)能(neng)化的(de)功(gong)能(neng)設計(ji)(ji)使(shi)儀器適用于更多的(de)客戶群體;
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